Wolfgang Osten教授做專題報告

張恒研究員做專題報告

本次會議，德國斯圖加特大學Wolfgang Osten教授做“Different Approaches for Resolution Enhancement in Optical Micro and Nano Metrology”專題報告，對微觀光學測量的優點和缺點以及未來的發展趨勢做了全面的闡述；中國計量科學院張恒研究員做“平面度檢測技術發展與現狀”專題報告，提出了檢測數據一致性的重要性，評估了平晶檢測技術從等厚、等傾到相移干涉技術的發展趨勢，并肯定了慧利儀器在中國計量領域的貢獻。

“光學干涉計量技術研討會”現場

活動伊始，主辦單位蘇州慧利儀器有限責任公司董事長韓森教授致歡迎辭并做慧利儀器公司和產品簡介；接著帶領大家參觀慧利儀器實驗室。

慧利儀器韓森教授做公司簡介

慧利儀器市場經理莊錦程做公司產品簡介

活動下午，上海理工大學博士生張凌華、SPIE上海理工大學學生分會主席沈宇航同學、副主席楊穎同學分別帶來他們在干涉技術領域的學術報告分享。最后，慧利儀器董事長韓森教授宣布會議結束，大家一起合影留念。本次會議是疫情后中德第一次對光學干涉技術進行面對面的深度交流，為參會技術人員提供了難得的學習機會，在大家一致的好評中本次會議落下帷幕，期待下一次研討會的召開。

張凌華同學帶來學術報告分享

沈宇航同學帶來學術報告分享

楊穎同學帶來學術報告分享

合影