• 光學理論及設計
• 光學檢測和診斷技術
• 關鍵光學元件加工技術
• 束線光學設備開發 

韓森教授參加了此次會議，并做大會報告“挑戰先進光源大科學裝置中光學元件精密檢測的關鍵技術問題”，與現場參會的專家學者共同探討先進光源大科學儀器裝置各超精密光滑反射元件的表面面形測量現階段技術進展及遇到的問題。

蘇州慧利儀器有限責任公司具有多年光學干涉檢測設備研發經驗，致力于超光滑表面面形的面形檢測，能夠根據用戶需求提供各類超高精度的檢測解決方案。到目前為止，慧利儀器憑借超高的平面絕對檢測工程化技術已實現PV值≤λ/120的面形檢測，該方案已被多家光源大科學裝置研究院所采納使用。